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復(fù)合式影像測量儀的品質(zhì)特征

日期:2024-12-05 03:44
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摘要:復(fù)合多傳感器測量可以促進質(zhì)量過程的效率。 測量生產(chǎn)部件的尺寸是生產(chǎn)質(zhì)量控制的基礎(chǔ)。公司越來越依賴復(fù)合多傳感器測量系統(tǒng)用于質(zhì)量。 但如何讓一個擁有多個傳感器的機器?每個傳感器如何在同一個系統(tǒng)中互不影響的協(xié)作?

為什么選擇多傳感器測量?

復(fù)合多傳感器測量可以促進質(zhì)量過程的效率。

測量生產(chǎn)部件的尺寸是生產(chǎn)質(zhì)量控制的基礎(chǔ)。公司越來越依賴復(fù)合多傳感器測量系統(tǒng)用于質(zhì)量。

但如何讓一個擁有多個傳感器的機器?每個傳感器如何在同一個系統(tǒng)中互不影響的協(xié)作?

光學(xué)CCD測量


一些人認(rèn)為光學(xué)測量局限于平的部件或在單一平面測量。這將不再是問題。在機器內(nèi)的地方,聚焦功能使得軟件呈現(xiàn)那些點之間的尺寸與位置關(guān)系。光學(xué)測量速度很快而且無需接觸,不僅局限于CCD探頭能測量的。

 

觸發(fā)式探針


觸發(fā)式探針式質(zhì)量控制的主打產(chǎn)品。觸發(fā)式探針是與CMM相關(guān)的。但是它僅是用于多傳感器光學(xué)測量系統(tǒng)的普通傳感器。

觸發(fā)式探針探測與部件接觸。由于探針可以從任一方向與表面接觸,他可以測量光學(xué)CCD不能夠成像的特征點,例如圓柱內(nèi),鉆孔內(nèi)的點。

觸發(fā)式探針的一個缺點是測量多個點時速度慢。每個點逐個接觸與記錄,因此需要花費時間來取得足夠的點來詳細(xì)的描述特征。易碎的與可變形的部件可能也會導(dǎo)致由于部件變形產(chǎn)生的問題。

 

激光測量

激光傳感器的優(yōu)勢有:光可以在一個小的區(qū)域聚焦,這個技術(shù)是非接觸式的并且數(shù)據(jù)點的采集率高。這使得這個傳感器測量很理想。例如在易碎部件的掃描測量與Z方向測量。

 

光纖測量


光纖測量傳感器補充了多傳感器技術(shù)技術(shù)中微型部件測量難題。傳統(tǒng)探針直徑在0.1mm,顯然無法測量小于0.1mm的部件特征。同時 也補充了傳統(tǒng)光學(xué)傳感器無法測量的微小內(nèi)壁特征。例如汽車噴油嘴出油孔測量。

光纖傳感器具有的優(yōu)勢有:測針及其微小,達(dá)到20微米的直徑大小。同時光纖傳感器測力及其微小,對部件形變基本無影響。這使得光纖測量傳感器對于微小部件測量理想。例如:小模數(shù)齒輪,噴油孔等。

 

X射線測量傳感器


X射線測量傳感器是應(yīng)對日益復(fù)雜且嚴(yán)苛的質(zhì)量控制而生的。集成了X射線特殊的斷層成像能力,基于坐標(biāo)測量機的精密結(jié)構(gòu)實現(xiàn)了全尺寸內(nèi)外特征高精密。補充了光學(xué)測量機、接觸式測量機、光纖測量傳感器等無法測量內(nèi)部特征的限制。

集成在坐標(biāo)測量系統(tǒng)中的X射線測量傳感器繼承了坐標(biāo)測量機的精密結(jié)構(gòu)及精密測量能力,又集成X射線穿透能力的全尺寸測量技術(shù)。

 

坐標(biāo)傳感器與測量

多傳感器測量系統(tǒng)的測量軟件控制所有的傳感器,追蹤它們在測量系統(tǒng)內(nèi)的位置,包括彼此相對的補償并且控制數(shù)據(jù)采集。

對于三維測量,軟件保持所有采集的數(shù)據(jù)點的位置在測量范圍內(nèi),允許那些點建立可測量的關(guān)系。

 

正確使用傳感器

為了從一個多傳感器測量系統(tǒng)取得結(jié)果,使用有效的傳感器測量每個部件特征很重要。例如,光學(xué)CCD善于測量邊界。一個邊界可能是一個部件的邊界,一個鉆孔的頂部或者一個槽或一組孔一樣的特征。事實上,一個邊界可能是介于不同顏色之間的區(qū)域或一個表面文理。

測量軟件可以很容易地測量在一個探測區(qū)域看到的擬合特征,在更多功能測量軟件應(yīng)用可以沿著一個比攝像圖像更大的邊界自動移動CCD探頭或部件,同時測量多個特征,或者測量任意指定區(qū)域,尺寸。

盡管光學(xué)CCD傳感器能夠測量表面點,激光傳感器快。此外,光學(xué)CCD傳感器一次收集一個表面點,當(dāng)激光移動時采集取樣點,可以在表面掃描一個區(qū)域。當(dāng)激光傳感器集成到系統(tǒng)的整體機械控制時,激光就可以掃描不同、復(fù)雜曲線的表面。

當(dāng)一個部件在一個固定位置時,觸發(fā)式探針可能從激光不能達(dá)到的部件表面測量。例如,探針可以從光學(xué)系統(tǒng)同軸的鉆孔壁上測量。光學(xué)CCD可以很容易的測量圓柱與頂部平面相交的頂部圓,但是不能測量圓柱內(nèi)壁。探針可以采集圓柱周圍從頂部開始不同深度的點來測量分析圓度、圓柱度。

光學(xué)CCD、激光傳感器、探針是在多傳感器測量系統(tǒng)中主要的類型。有很多微型探針使用獨特的探針技術(shù)。例如:僅有20μm直徑的光纖探針,白光干涉?zhèn)鞲衅鳎V共交傳感器等。

 

益處

比起接受不完整信息,或者由于測量系統(tǒng)的限制,重要的制造判斷,一個由計算機控制的復(fù)合多傳感器測量機可以在一次自動程序提供徹底的,細(xì)節(jié)的測量數(shù)據(jù)。該測量僅需要很少或不需要人員的參與,不需要加載或卸載部件。復(fù)雜的多傳感器測量程序也要比人工在單一傳感器系統(tǒng)上測量來的快,提高了質(zhì)量檢測中的效率。

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